參賽序號：35
海報主題
以霍爾元件與磁化理論檢測第二代高溫超導線材之局部臨界電流變化
系級
材料科學及工程學系
指導老師及參賽學生
指導老師：陳引幹
參賽學生：洪麒富
構想說明
四點式量測是第二代高溫超導線材臨界電流(Ic)的常用量測方法。然而，此法解析度受限於量測時設置的電極間距(~cm)，無法量測微小區域，故難以分析超導線材毫米級的局部缺陷。本研究開發一種「非接觸」量測方法：以磁場分布量測搭配數學模型方式計算臨界電流。為了確定模型的可行性，本研究對高溫超導線材進行不同熱處理製程，這些製程有可能破壞超導性質，藉此測試我們的「非接觸」量測是否可觀察到局部的臨界電流缺陷，並與四點式量測進行比較。結果顯示，本研究開發的「非接觸」量測具有毫米級的解析度(4 mm)及非常低的臨界電流計算誤差(<10 A)。
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